“这是个非常精辟的观点。”周至点头表示理解：“但是从位升级到块，就不可避免地会发生一个问题。”
“每一个集成电路上的存储栅格，其擦写寿命是有次数上限的，以前是按位擦写，写坏了一个，就跳到另一个去继续，这样对于芯片的存储空间来说，坏一个跳过一个，没有什么大问题。”
“现在从位读写变成了块读写，问题就变成了坏一个栅格，一个数据块不能用，对于闪存的寿命质量要求来说，这样的浪费就太大了。”
“的确是有这个问题。”舛冈富士雄皱眉道：“但是我们也提出了解决的办法，那就是对区块的使用尽量平均，用随机的算法去访问下一个可供读写的数据块，避免对同一数据块的过度重复使用，这样可以解决一大部分的问题。”
“的确，从我们四叶草对东芝NAND闪存的分析中，我们也发现了舛�
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